Microwave and millimeter-wave sensors, systems, and techniques for electromagnetic imaging and materials characterization / A. Randazzo; K. M. Donnell; Y. S. Lee. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF MICROWAVE SCIENCE AND TECHNOLOGY. - ISSN 1687-5826. - ELETTRONICO. - 2012(2012), pp. 1-2.
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Titolo: | Microwave and millimeter-wave sensors, systems, and techniques for electromagnetic imaging and materials characterization |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2012 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11567/528321 |
Appare nelle tipologie: | 01.01 - Articolo su rivista |
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