SINHA, ARUN KUMAR

SINHA, ARUN KUMAR  

100026 - Dipartimento di Ingegneria navale, elettrica, elettronica e delle telecomunicazioni  

Mostra records
Risultati 1 - 9 di 9 (tempo di esecuzione: 0.01 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Novel Method to Size Resistance for Biasing the POSFET Sensors in Common Drain ConfigurationSensors and Microsystems 1-gen-2014 Sinha, ARUN KUMAR; Caviglia, Daniele
A scheme for measuring and extracting level-1 parameter of FET device applied toward POSFET sensors array 1-gen-2011 Sinha, ARUN KUMAR; Valle, Maurizio
An approach to realize high value resistance using PMOS device at weak inversion for POSFET sensor 1-gen-2011 Sinha, ARUN KUMAR; Valle, Maurizio
An energy harvesting chip designed to extract maximum power from a TEG 1-gen-2016 Sinha, ARUN KUMAR; Radin, Rafael L.; Caviglia, Daniele D.; Montoro, Carlos G.; Schneider, Marcio C.
Bias circuit design for POSFET based tactile sensing devices 1-gen-2011 Sinha, ARUN KUMAR; Valle, Maurizio
Design of an advanced signal conditioning unit for sensor with reduced off-the-shelf components 1-gen-2012 Sinha, ARUN KUMAR; Caviglia, Daniele; P., Gaur
Designing high-value resistive network using weak inversion region of a PMOS device at the floating gate of a sensor 1-gen-2013 Sinha, ARUN KUMAR; Caviglia, Daniele
Exploring vulnerability of POSFETs 1-gen-2012 Sinha, ARUN KUMAR; Caviglia, Daniele
Higgs Physics at the HL-LHC and HE-LHC 1-gen-2019 Cepeda, M.; Gori, S.; Ilten, P.; Kado, M.; Riva, F.; Abdul Khalek, R.; Aboubrahim, A.; Alimena, J.; Alioli, S.; Alves, A.; Asawatangtrakuldee, C.; Azatov, A.; Azzi, P.; Bailey, S.; Banerjee, S.; Barberio, E. L.; Barducci, D.; Barone, G.; Bauer, M.; Bautista, C.; Bechtle, P.; Becker, K.; Benaglia, A.; Bengala, M.; Berger, N.; Bertella, C.; Bethani, A.; Betti, A.; Biekotter, A.; Bishara, F.; Bloch, D.; Bokan, P.; Bondu, O.; Bonvini, M.; Borgonovi, L.; Borsato, M.; Boselli, S.; Braibant-Giacomelli, S.; Buchalla, G.; Cadamuro, L.; Caillol, C.; Calandri, A.; Calderon Tazon, A.; Campbell, J. M.; Caola, F.; Capozi, M.; Carena, M.; Carloni Calame, C. M.; Carmona, A.; Carquin, E.; Carvalho Antunes De Oliveira, A.; Castaneda Hernandez, A.; Cata, O.; Celis, A.; Cerri, A.; Cerutti, F.; Chahal, G. S.; Chakraborty, A.; Chaudhary, G.; Chen, X.; Chisholm, A. S.; Contino, R.; Costa, A. J.; Covarelli, R.; Craig, N.; Curtin, D.; D'Eramo, L.; Dührssen, M.; Dang, N. P.; Das, P.; Dawson, S.; De Aguiar Francisco, O. A.; de Blas, J.; De Curtis, S.; De Filippis, N.; De la Torre, H.; de Lima, L.; De Wit, A.; Delaere, C.; Delcourt, M.; Delmastro, M.; Demers, S.; Dev, N.; Di Nardo, R.; Di Vita, S.; Dildick, S.; do Prado, L. A. F.; Donadelli, M.; Du, D.; Durieux, G.; Eberhardt, O.; El Morabit, K.; Elias-Miro, J.; Ellis, J.; Englert, C.; Falke, S.; Farina, M.; Ferrari, A.; Ferroglia, A.; Fiolhais, M. C. N.; Flechl, M.; Folgueras, S.; Fontanesi, E.; Francavilla, P.; Franceschini, R.; Frederix, R.; Frixione, S.; Gómez-Ceballos, G.; Gabrielli, A.; Gadatsch, S.; Gallinaro, M.; Gandrakota, A.; Gao, J.; Garay Walls, F. M.; Gehrmann, T.; Gershtein, Y.; Ghosh, T.; Gilbert, A.; Glein, R.; Glover, E. W. N.; Gomez-Ambrosio, R.; Gonçalo, R.; Gonçalves, D.; Gorbahn, M.; Gouveia, E.; Gouzevitch, M.; Govoni, P.; Grazzini, M.; Greenberg, B.; Grimm, K.; Gritsan, A. V.; Grohsjean, A.; Grojean, C.; Gu, J.; Gugel, R.; Gupta, R. S.; Gwilliam, C. B.; Höche, S.; Haacke, M.; Haddad, Y.; Haisch, U.; Hamity, G. N.; Han, T.; Harland-Lang, L. A.; Harnik, R.; Heinemeyer, S.; Heinrich, G.; Henning, B.; Hirschi, V.; Hoepfner, K.; Hogan, J. M.; Homiller, S.; Huang, Y.; Huss, A.; Jézéquel, S.; Jain, Sa.; Jones, S. P.; Köneke, K.; Kalinowski, J.; Kamenik, J. F.; Kaplan, M.; Karlberg, A.; Kaur, M.; Keicher, P.; Kerner, M.; Khanov, A.; Kieseler, J.; Kim, J. H.; Kim, M.; Klijnsma, T.; Kling, F.; Klute, M.; Komaragiri, J. R.; Kong, K.; Kozaczuk, J.; Kozow, P; Krause, C.; Lai, S.; Langford, J.; Le, B.; Lechner, L.; Leight, W. A.; Leney, K. J. C.; Lenz, T.; C-Q., Li; Li, H.; Li, Qiuchi; Liebler, S.; Lindert, J.; Liu, D.; Liu, J.; Liu, Y.; Liu, Zunyue; Lombardo, Dania; Long, A.; Long, K.; Low, I.; Luisoni, G.; L. L., Ma; Magnan, A. -M.; Majumder, D.; Malinauskas, A.; Maltoni, F.; Mangano, M. L.; Marchiori, G.; Marini, A. C.; Martin, A.; Marzani, S.; Massironi, A.; Matchev, K. T.; Matheus, R. D.; Mazumdar, K.; Mazzitelli, J.; Mcdougall, A. E.; Meade, P.; Meridiani, P.; Meyer, A. B.; Michielin, E.; Milenovic, P.; Milosevic, V.; Mimasu, K.; Mistlberger, B.; Mlynarikova, M.; Mondragon, M.; Monni, P. F.; Montagna, GIAIME NICCOLO'; Monti, F.; Moreno Llacer, M.; Mueck, A.; Muiño, P. C.; Murphy, C.; Murray, W. J.; Musella, P.; Narain, M.; Naranjo Garcia, R. F.; Nath, P.; Neubert, M.; Nicrosini, O.; Nikolopoulos, K.; Nisati, A.; J. M., No; Ojeda, M. L.; Olivares Pino, S. A.; Onofre, A.; Ortona, G.; Pagan Griso, S.; Pagani, D.; Palencia Cortezon, E.; Palmer, C.; Pandini, C.; Panico, G.; Panwar, L.; Pappadopulo, D.; Park, M.; Patel, RAKESH SURESH; Paucar-Velasquez, F.; Pedro, K.; Pernie, L.; Perrozzi, L.; Petersen, B. A.; Petit, E.; Petrucciani, G.; Piacquadio, G.; Piccinini, F.; Pieri, M.; Plehn, T.; Pokorski, S.; Pomarol, A.; Ponton, E.; Pozzorini, S.; Prestel, S.; Prokofiev, K.; Ramsey-Musolf, M.; Re, E.; Readioff, N. P.; Redigolo, D.; Reina, L.; Reynolds, E.; Riembau, M.; Rikkert, F.; Robens, T.; Roentsch, R.; Rojo, J.; Rompotis, N.; Rorie, J.; Rosiek, J.; Roskes, J.; Ruderman, J. T.; Sahoo, N.; Saito, S.; Salerno, R.; Sales De Bruin, P. H.; Salvucci, A.; Sandeep, K.; Santiago, J.; Santo, R.; Sanz, V.; Sarica, U.; Savin, A.; Savoy-Navarro, A.; Sawant, S.; Schaffer, A. C.; Schlaffer, M.; Schmidt, A.; Schneider, B.; Schoefbeck, R.; Schröder, M.; Scodeggio, M.; Scott, E.; Scyboz, L.; Selvaggi, M.; Sestini, L.; Shao, H. -S.; Shivaji, A.; Silvestrini, L.; Trigona, SIMON LUCA; Sinha, K.; Soreq, Y.; Spannowsky, M.; Spira, M.; Spitzbart, D.; Stamou, E.; Stark, J.; Stefaniak, T.; Stieger, B.; Strong, G.; Szleper, M.; Tackmann, K.; Takeuchi, M.; Taroni, S.; Testa, M.; Thamm, A.; Theeuwes, V.; Thomsen, L. A.; Tkaczyk, S.; Torre, Riccardo; Tramontano, F.; Ulmer, K. A.; Vantalon, T.; INCERTI VECCHI, Leonardo; Vega-Morales, R.; Venturini, E.; Verducci, M.; Vernieri, Claudio; Vickey, T.; Vidal Marono, M.; Vischia, P.; Vryonidou, E.; Walbrecht, V. M.; Wang, L. -T.; Wardle, N.; Wardrope, D. R.; Weiglein, G.; Wertz, S.; Wielers, M.; Williams, J. M.; Wolf, R.; Wulzer, A.; Xiao, M.; Yang, H. T.; Yazgan, E.; Yin, Z.; You, T.; Yu, F.; Zanderighi, G.; Zanzi, D.; Zaro, M.; Zenz, S. C.; Zerwas, D.; Zgubič, M.; Zhang, J.; Zhang, L.; Zhang, W.; Zhao, Xinyuan; Zhong, Y. -M.