Use of atomic force microscopy to probe surface charge densities in electrolyte solutions on a nanometer scale / R. Raiteri; S. Martinoia; M. Grattarola;H.-J. Butt. - STAMPA. - (1996), pp. 2073-2074. ((Intervento presentato al convegno 18th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology tenutosi a Amsterdam, The Netherlands nel 31 Ottobre 1996.
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Titolo: | Use of atomic force microscopy to probe surface charge densities in electrolyte solutions on a nanometer scale |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1996 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11567/529730 |
Appare nelle tipologie: | 04.01 - Contributo in atti di convegno |
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