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R.; Charles, E.; Dasu, S.; Di Lodovico, F.; Eichenbaum, A. M.; Hu, H.; Johnson, J. R.; Liu, R.; Nielsen, J.; Pan, Y.; Prepost, R.; Scott, I. J.; von Wimmersperg Toeller, J. H.; S. L., Wu; Yu, Z.; Zobernig, H.; Kordich, T. M. B.; Neal, H.

doi:10.1142/S0217751X02012910 (3)

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Bernard Aubert;D. Boutigny;J. M. Gaillard;A. Hicheur;Y. Karyotakis;J. P. Lees;P. Robbe;V. Tisserand;A. Palano;G. P. Chen;J. C. Chen;N. D. Qi;G. Rong;P. Wang;Y. S. Hz;G. Eigen;P. L. Reinertsen;B. Stugu;B. Abbott;G. S. Abrams;A. W. Borgland;A. B. Breon;David Nathan Brown;Janice Button Shafer;R. N. Cahn;A. R. Clark;M. S. Gill;A. V. Gritsan;Y. Groysman;R. G. Jacobsen;R. W. Kadel;J. Kadyk;L. T. Kerth;S. Kluth;Y.u. G. Kolomensky;J. F. Kral;C. LeClerc;M. E. Levi;T. Liu;G. Lynch;A. B. Meyer;M. Momayezi;P. J. Oddone;A. Perazzo;M. Pripstein;N. A. Roe;A. Romosan;M. T. Ronan;V. G. Shelkov;A. V. Telnov;W. A. Wenzel;P. G. Bright Thomas;T. J. Harrison;C. M. Hawkes;D. J. Knowles;S. W. O'Neale;R. C. Penny;A. T. Watson;N. K. Watson;T. Deppermann;K. Goetzen;H. Koch;J. Krug;M. Kunze;B. Lewandowski;K. Peters;H. Schmuecker;M. Steinke;J. C. Andress;N. R. Barlow;W. Bhimji;N. Chevalier;P. J. Clark;W. N. Cottingham;N. De Groot;N. Dyce;B. Foster;J. D. McFall;D. Wallom;F. F. Wilson;K. Abe;C. Hearty;T. S. Mattison;J. A. McKenna;D. Thiessen;S. Jolly;A. K. McKemey;Jane S. Tinslay;V. E. Blinov;A. D. Bukin;D. A. Bukin;A. R. Buzykaev;V. B. Golubev;V. N. Ivanchenko;A. A. Korol;E. A. Kravchenko;A. P. Onuchin;A. A. Salnikov;S. I. Serednyakov;Y.u. I. Skovpen;Valery I. Telnov;A. N. Yushkov;D. Best;A. J. Lankford;M. Mandelkern;S. McMahon;D. P. Stoker;A. Ahsan;K. Arisaka;C. Buchanan;S. Chun;J. G. Branson;D. B. MacFarlane;Soeren A. Prell;S. Rahatlou;G. Raven;V. Sharma;C. Campagnari;B. Dahmes;P. A. Hart;N. Kuznetsova;S. L. Levy;O. Long;A. Lu;J. D. Richman;W. Verkerke;Michael S. Witherell;S. Yellin;J. Beringer;D. E. Dorfan;A. M. Eisner;A. Frey;A. A. Grillo;M. Grothe;C. A. Heusch;R. P. Johnson;W. Kroeger;William S. Lockman;T. Pulliam;H. Sadrozinski;T. Schalk;R. E. Schmitz;B. A. Schumm;A. Seiden;M. Turri;W. Walkowiak;D. C. Williams;M. G. Wison;E. Chen;G. P. Dubois Felsmann;A. Dvoretskii;D. G. Hitlin;S. Metzler;J. Oyang;F. C. Porter;A. Ryd;A. Samuel;M. Weaver;S. Yang;R. Y. Zhu;S. Devmal;T. L. Geld;S. Jayatilleke;G. Mancinelli;B. T. Meadows;M. D. Sokoloff;T. Barillari;P. Bloom;M. O. Dima;S. Fahey;William T. Ford;D. R. Johnson;U. Nauenberg;A. Olivas;H. Park;P. Rankin;J. Roy;S. Sen;James G. Smith;W. C. van Hoek;D. L. Wagner;J. Blouw;John L. Harton;M. Krishnamurthy;A. Soffer;W. H. Toki;R. J. Wilson;J. Zhang;T. Brandt;J. Brose;T. Colberg;G. Dahlinger;M. Dickopp;R. S. Dubitzky;A. Hauke;E. Maly;R. Muller Pfefferkorn;S. Otto;Klaus R. Schubert;R. Schwierz;B. Spaan;L. Wilden;L. Behr;Denis Bernard;1;G. R. Bonneaud;F. Brochard;J. Cohen Tanugi;S. Ferrag;E. Roussot;S. T'Jampens;C. Thiebaux;G. Vasileiadis;M. Verderi;A. Anjomshoaa;R. Bernet;A. Khan;D. Lavin;F. Muheim;S. Playfer;J. E. Swain;M. Falbo;C. Borean;C. Bozzi;S. Dittongo;M. Folegani;L. Piemontese;E. Treadwell;F. Anulli;R. Baldini Ferroli;A. Calcaterra;R. de Sangro;D. Falciai;G. Finocchiaro;P. Patteri;I. M. Peruzzi;M. Piccolo;Y. Xie;A. Zallo;S. Bagnasco;A. Buzzo;CONTRI, ROBERTO;G. Crosetti;P. Fabbricatore;S. Farinon;LO VETERE, MAURIZIO;M. 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