A structured approach for the metrological characterization of biometric systems based on face recognition / BETTA G; CAPRIGLIONE D; CRENNA F; G. B. ROSSI; GASPARETTO M; ZAPPA E; LIGUORI C; PAOLILLO A. - STAMPA. - (2010), pp. 34-39. ((Intervento presentato al convegno Fourth International Conference on Sensing Technology (ICST 2010) tenutosi a Lecce nel June 3 – 5, 2010.
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Titolo: | A structured approach for the metrological characterization of biometric systems based on face recognition |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2010 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11567/260179 |
ISBN: | 9780473164928 |
Appare nelle tipologie: | 04.01 - Contributo in atti di convegno |
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