Metal nanostructures assembled at semiconductor surfaces studied with high resolution scanning probes / Szymonski, M.; Goryl, M.; Krok, F.; Kolodziej, J. J.; BUATIER DE MONGEOT,. - In: NANOTECHNOLOGY. - ISSN 0957-4484. - STAMPA. - 18(2007), pp. 044016-1-044016-7.
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Titolo: | Metal nanostructures assembled at semiconductor surfaces studied with high resolution scanning probes |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2007 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11567/226458 |
Appare nelle tipologie: | 01.01 - Articolo su rivista |
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