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Electron Irradiation Effect on Minority Carrier Lifetime and Other Electrical Characteristics in Silicon Power Devices
1985-01-01 P. G., Fuochi; P. G., DI MARCO; A., Monti; Bisio, Giacomo; DI ZITTI, Ermanno; B., Passerini; S., Tenconi
Recombination Centers and Electrical Characteristics in Silicon P-i-N Diodes Irradiated with Energy Electrons
1988-01-01 P. G., Fuochi; A., Martelli; Bisio, Giacomo; DI ZITTI, Ermanno; M. G., Motto; B., Passerini; M., Zambelli
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Electron Irradiation Effect on Minority Carrier Lifetime and Other Electrical Characteristics in Silicon Power Devices | 1-gen-1985 | P. G., Fuochi; P. G., DI MARCO; A., Monti; Bisio, Giacomo; DI ZITTI, Ermanno; B., Passerini; S., Tenconi | |
Recombination Centers and Electrical Characteristics in Silicon P-i-N Diodes Irradiated with Energy Electrons | 1-gen-1988 | P. G., Fuochi; A., Martelli; Bisio, Giacomo; DI ZITTI, Ermanno; M. G., Motto; B., Passerini; M., Zambelli |
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