The dependence of fingerprints relevant to PDs on degradation time and test voltageProceedings of Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena - CEIDP '96 / R. Bozzo;C. Gemme;F. Guastavino. - STAMPA. - (1996), pp. 500-503. ((Intervento presentato al convegno CEIDP.
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Titolo: | The dependence of fingerprints relevant to PDs on degradation time and test voltageProceedings of Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena - CEIDP '96 |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1996 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11567/391854 |
ISBN: | 0780335805 |
Appare nelle tipologie: | 04.01 - Contributo in atti di convegno |
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