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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Fast three-dimensional nanoscale metrology in dual-beam FIB-SEM instrumentation 1-gen-2009 Repetto, Luca; R., Buzio; C., Denurchis; Firpo, Giuseppe; Piano, EMANUELE FELICE; Valbusa, Ugo
Investigation of integrin expression on the surface of osteoblast-like cells by atomic force microscopy. 1-gen-2010 CANEVA SOUMETZ, Federico; J. F., Saenz; Pastorino, Laura; Ruggiero, Carmelina; D., Nosi; Raiteri, Roberto
Morphology, mechanical properties and viability of encapsulated cells 1-gen-2007 SVALDO LANERO, T.; Krol, S.; Magrassi, R.; Diaspro, ALBERTO GIOVANNI; Rolandi, Ranieri; Gliozzi, Alessandra; Cavalleri, Ornella
Neutral helium atom microscopy 1-gen-2023 Salvador Palau, Adrià; Daniela Eder, Sabrina; Bracco, Gianangelo; Holst, Bodil
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